【H07_01_HE9145_THA6平台_电压缓降失效、高温驱动失效问题】
1、问题描述



2、排查思路
L9945欠压复位问题,之前在F17-06项目出现过,查看下代码有没有更新过来
温度变高,内阻变大 ,9945设置的是电压阈值 。I=U/R ,U不变,R变大,相当于电流阈值变小了。检查下电流阈值配置的多少
3、欠压复位原理

慢速诊断检查异常


周期任务里重新初始化配置信息
4、HE9145和L9945过流诊断策略差异

DSM 采集的两个电压点(低边 LS NMOS)
DRN3 引脚 → MOS 漏极 D(图中 C 点)
SNGP3 引脚 → MOS 源极 S(图中 B 点)
DSM 直接测量外部 NMOS 管 Vds = V(DRN) − V(SNGP),也就是 MOS 管漏‑源两端电压。
对比 Shunt 模式(OC_DS_SHUNT_xx =1)
采样点:SNGP3(B 点) 和 GNSP3(A 点)
这就是图中多路选择器:
OC_DS_SHUNT_xx位用来二选一:0:选 DSM,输入来自 DRN/SNGP(MOS 的 Vds)
1:选 Shunt,输入来自 SNGP/GNSP(采样电阻压降)
实际测试下来L9945的这个DSM位和Shunt效果一样,会采集mos内阻+采样电阻

5、MEUM阀的高温失效问题

初始化命令中配置档位6档


10ms周期任务中修改为30档位
外部采样电阻0.05欧姆 I=U/R=520mV/0.05Ω=0.52V/0.05A=10.4A

修改为OC档位63 约为20A跟高边差不多

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